Leica DM3 XL - Le système d'inspection pour la microélectronique et les semi-conducteurs DM3 XL

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Descriptif

Voir plus signifie travailler plus vite. Pour faire un balayage rapide de grands composants (jusqu'à 6’’), le DM3 XL fournit un exceptionnel objectif macro. Avec un grossissement de 0,7x, il capture en une fois un champ visuel de 35,7 mm, soit 30 % de plus qu'avec les autres objectifs à balayage conventionnels. Avec l'objectif macro, les défauts n'ont plus aucune chance : Augmenter le rendement Détecter fiablement une insuffisance au bord ou au centre d'une galette Détecter l'inégalité d'épaisseur d'un film radial