AM7515MT4A

Le MS15X est une base XY avancée qui peut être utilisée indépendamment ou en combinaison avec la potence RK-06A ou RK-10A. La base MS15X est conçue pour être utilisée avec toutes sortes d'applications qui nécessitent un examen fin sur les mouvements d'axes X (45mm) et Y. (50mm) Avec sa table rotative de 360 degrés, on peut facilement mener à bien toutes sortes d'examens de précision. MS15X peut être utilisée indépendamment ou combinée avec les potences RK-06A et RK-10A (pinces C incluses).

MS53BA2 est une combinaison du bras articulé rigide MS53B et d'une base plane qui permet de maintenir MS53B sur une table. La base plane est adaptée aux situations où les pinces standard ne peuvent être utilisée pour stabiliser MS53B sur une surface stable. Le bras flexible est déplacé et ajusté en serrant des vis et des pinces (serrage rapide) pour son positionnement en fonction de la zone que vous souhaitez examiner. Deux de ces bras flexibles peuvent pivoter à 360 degrés et s'étendre pour favoriser l'atteinte de l'objet. Le bras articulé MS53BA2 est fabriqué pour durer, en acier et aluminium recyclé très léger et a la capacité d'être replié de manière très compacte et peu encombrante, ce qui fait de MS53BA2 un accessoire portable facile à emporter.

Le AM7515MT8A est un microscope 5MP de la série Dino-Lite Edge qui a une plage de grossissement de 700x- 900x avec un éclairage axial intégré. Grâce à l'utilisation de la commande flexible des LED (FLC) à l'aide du logiciel fourni, ce modèle est capable de passer d'un éclairage à fond clair à un éclairage à fond noir, ou de les mélanger, révélant ainsi des détails qui sont très difficiles à voir sous un éclairage normal. L'AM7515MT8A comprend la fonction de lecture automatique du grossissement (AMR) qui facilite les mesures en affichant le grossissement actuel directement dans la fenêtre de visualisation en direct.

Les modèles Edge Dino-Lite offrent une qualité d'image supérieure. Le polariseur intégré réglable réduit la réflexion de lumière sur les objets brillants pour un contrôle optimal de la surface d'observation.