LEICA MICROSYSTEMS CMS GMBH

Le Dino-Lite AM7915MZT offre une imagerie haute résolution avec une plage de grossissement de 10x à 220x. Ce modèle combine les fonctions de traitement d'image Extended Depth of Field (EDOF), Extended Dynamic Range (EDR) et Automatic Magnification Reading (AMR). EDOF est une fonction de mise au point facile à utiliser qui capture plusieurs images à différents points de mise au point et les empile automatiquement en une seule image claire. Pour les surfaces très contrastées ou réfléchissantes, la fonction EDR révèle les détails des zones sombres ou claires, en empilant les images prises à différents niveaux d'exposition. La fonction AMR (Automatic Magnification Reading) détecte et affiche automatiquement le grossissement de Dino-Lite. Le FLC permet la gestion améliorée de l'éclairage LEDS.

Grâce aux denrières technologies numériques, nous pouvons realiser vos besoins à un niveau professionnel très élevé. Nous vous proposons des mesures 2D/3D (par exemple des mesures dimensionnelles, des mesures de bavures, des analyses granulométriques, des analyses des impuretés résiduelles suivant ISO 16232, et VDA 19, des mesures de profils et des analyses de particules) avec vue multi-éclairage pour les diverses angles de lumière, effet d’ombre optique pour détecter en toute fiabilité la moindre irrégularité, réduction de la réflexion et vue en mode HDR pour une gradation des couleurs haute. Grâce à l’angle de vue pivotante (jusqu’à 90°) ou d’aligner d’ofjectif mobile (pare exemple dans cavités), on peut utiliser des vues flexible. Une documentation détaillée des analyses effectués est requise, des images et vidéo avec vue pivotante en temps réel inclusive. Nous nous réjouissons de vos demandes!

Le boîtier du microscope est fabriqué en matériau PE et plié de manière télescopique (avec soufflet emboîté) en utilisant la taille et le cadre demandés sur demande et est conçu pour être utilisé dans toutes les opérations microscopiques. Compatible avec les microscopes Zeiss, Leica et Haag. Du ruban adhésif peut être ajouté sur demande