Descriptif

Le système de polissage à triple faisceau ionique, Leica EM TIC 3X, permet la production de sections transversales et de surfaces polies pour la microscopie électronique à balayage (MEB), l'analyse de microstructures (EDS, WDS, Auger, EBSD) et les examens AFM.

Fraisage des aciers et métaux
  • préparation de surface

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